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J-GLOBAL ID：200903081829062297

表面プラズモン共鳴分光を用いた表面光反応の検出、測定方法

Inventor： 玉田 薫 ,  秋山 陽久
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000202146
Publication number (International publication number)：2002022653
Application date： Jul. 04, 2000
Publication date： Jan. 23, 2002
Summary：

【要約】【課題】 自己組織化膜に生じる光異性化を高感度で、かつ、実時間で、検出、測定することのできる、表面プラズモン共鳴分光を用いた表面光反応の検出、測定方法を提供する。【解決手段】 自己組織化膜に有機溶媒を接触させ、有機溶媒中で該自己組織化膜に生じる光異性化を表面プラズモン共鳴分光により測定する表面光反応の検出、測定方法。

Claim (excerpt)：

自己組織化膜に有機溶媒を接触させ、有機溶媒中で該自己組織化膜に生じる光異性化を表面プラズモン共鳴分光により測定することを特徴とする表面光反応の検出、測定方法。

F-Term (15)：

2G059AA02 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059DD03 ,  2G059DD04 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE04 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ12 ,  2G059KK01