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J-GLOBAL ID：200903081869906935

測距装置

Inventor： 織田 肇 ,  高橋 ▲琢▼磨
Applicant, Patent owner： 株式会社精工舎
Agent (1)： 松田 和子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994314626
Publication number (International publication number)：1996170913
Application date： Dec. 19, 1994
Publication date： Jul. 02, 1996
Summary：

【要約】【目的】 距離領域の設定が簡単に行える測距装置を提供する。【構成】 物体までの距離を測定する測距手段と、測距手段の測距結果を判定する判定手段と、測距手段が測距可能な測距範囲のうちの特定の距離点を設定する第1の設定手段及び、前記特定の距離点を含む所定の距離範囲を設定する第2の設定手段を備え、前記判定手段は、前記第2の設定手段が設定した距離点によって分割される複数の距離領域もしくは前記特定の距離点と前記第2の設定手段が設定した距離点によって分割される複数の距離領域のうち、どの領域内の距離であるかを判定するようにしてある。

Claim (excerpt)：

物体までの距離を測定する測距手段と、前記測距手段の測距結果を判定する判定手段と、前記判定手段に接続され、前記測距手段が測距可能な測距範囲のうちの特定の距離点を設定する第1の設定手段と、前記特定の距離点の近側と遠側にそれぞれ1つの距離点を設定する第2の設定手段とを備えた測距装置であって、前記判定手段は、前記第2の設定手段が設定した距離点によって分割される複数の距離領域もしくは前記特定の距離点と前記第2の設定手段が設定した距離点によって分割される複数の距離領域のうち、どの領域内の距離であるかを判定する判定手段であることを特徴とする測距装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 変位検出センサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-225003   Applicant：オムロン株式会社