水素同位体比分析法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：光石俊郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994098311
Publication number (International publication number)：1995306183
Application date： May. 12, 1994
Publication date： Nov. 21, 1995
Summary：

【要約】【目的】放射化分析並みの高感度であり、しかも安定同位体である重水素(D)と軽水素(H)を同精度にて計測し得る水素同位体比分析法を提供することを目的とする。【構成】水素原子の三種類の同位体である軽水素、重水素、トリチウムを含有する気体分子及び容易にガス化可能な分子に対して、同位体効果に起因する同位体シフトを利用し、特定同位体を含有する分子のみを電子励起状態とし、引き続いて第二段階以降の励起により、電子励起状態にある分子のみをイオン化して検出することで、前記同位体の濃度を定量するものである。

Claim (excerpt)：

水素原子の三種類の同位体である軽水素、重水素、トリチウムを含有する気体分子及び容易にガス化可能な分子に対して、同位体効果に起因する同位体シフトを利用し、特定同位体を含有する分子のみを電子励起状態とし、引き続いて第二段階以降の励起により、電子励起状態にある分子のみをイオン化して検出することで、前記同位体の濃度を定量することを特徴とする水素同位体比分析法。

IPC (3)：

G01N 27/64 , G01N 27/62 , G01N 31/00

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

特開平3-146862
特開平2-207825
特開昭63-191955

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Cited by examiner (3)

特開平3-146862
特開平2-207825
特開昭63-191955

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