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J-GLOBAL ID：200903081958639711
生産プロセスの評価方法及び評価装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003028163
Publication number (International publication number)：2004240628
Application date： Feb. 05, 2003
Publication date： Aug. 26, 2004
Summary：
【課題】生産プロセス全体のパフォーマンスを総合的に評価でき、多角的な解析を可能にした生産プロセスの評価方法及び評価装置を実現する。【解決手段】生産プロセスの評価指標となるパフォーマンス評価項目を予め複数用意しておき、実行している生産プロセスが各パフォーマンス評価項目を満たしているかどうかによって加点もしくは減点または他の評価演算を行って最終評価値を出す。最終評価値をグラフ表示する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
生産プロセスを所定の評価基準に基づいて評価する生産プロセスの評価方法において、
生産プロセスの評価指標となるパフォーマンス評価項目と評価値を対応させたデータを予め複数用意してメモリに格納しておき、生産プロセスを実行したときに実績データを収集手段で収集し、収集した実績データに基づいて演算手段は前記実行した生産プロセスが前記パフォーマンス評価項目で定める条件を満たしているかどうかを判断し、判断結果に応じて前記評価値を加点もしくは減点または他の評価演算をし、生産プロセスを複数のパフォーマンス評価項目に基づいて総合評価することを特徴とする生産プロセスの評価方法。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (7)：
3C100AA22
, 3C100BB02
, 3C100BB05
, 3C100BB14
, 3C100BB15
, 3C100BB17
, 3C100BB27
Cited by examiner (5)
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