テラヘルツ電磁波時間分解分光装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：福田賢三 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001274318
Publication number (International publication number)：2003083888
Application date： Sep. 10, 2001
Publication date： Mar. 19, 2003
Summary：

【要約】【課題】測定試料に照射される、または測定試料から出射するパルス状テラヘルツ(THz)電磁波を増幅して、信号対雑音比を改善し、従来では不可能であった飽和分光の時間分解測定を実現できるTHz電磁波時間分解分光装置を提供する。【解決手段】パルスレーザ光源と、その光の分岐手段と、分岐されたいずれかの光路の光を遅延させる手段と、分岐あるいは遅延された第1の光路のパルスレーザ光に同期してパルス状のTHz電磁波を発生する発生手段と、発生したパルス状THz電磁波を増幅する増幅手段と、該パルス状THz電磁波に同期して前記増幅手段の増幅度を変化させる増幅度制御手段と、増幅されたパルス状THz電磁波を測定試料に入射する構成と、分岐あるいは遅延された第2の光路の光と上記の測定試料から出射した光とを合波する合波手段と、この光を電気信号に変換する変換手段とを有する構成とする。

Claim (excerpt)：

パルスレーザ光源と、該光源からの光を複数の光路に分岐する分岐手段と、分岐されたいずれかの光路の光を遅延させる手段と、分岐されたあるいはさらに遅延された第1の光路のパルスレーザ光に同期してパルス状のテラヘルツ電磁波を発生する発生手段と、発生したパルス状テラヘルツ電磁波を増幅する増幅手段と、該パルス状テラヘルツ電磁波に同期して、前記増幅手段の増幅度を変化させる増幅度制御手段と、増幅されたパルス状テラヘルツ電磁波を測定試料に入射する構成と、分岐されたあるいはさらに遅延された第2の光路の光と上記の測定試料から出射した光とを合波する合波手段と、この合波された光を電気信号に変換する変換手段と、を、有することを特徴とするパルス状テラヘルツ電磁波時間分解分光装置。

IPC (5)：

G01N 21/35 , G01J 3/28 , G01N 22/00 , H01S 1/02 , G01J 11/00

FI (5)：

G01N 21/35 Z , G01J 3/28 , G01N 22/00 M , H01S 1/02 , G01J 11/00

F-Term (48)：

2G020AA03 , 2G020CA14 , 2G020CB05 , 2G020CB23 , 2G020CB42 , 2G020CC26 , 2G020CD03 , 2G020CD13 , 2G020CD15 , 2G020CD24 , 2G020CD35 , 2G059AA05 , 2G059BB08 , 2G059BB16 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE05 , 2G059EE10 , 2G059EE12 , 2G059GG01 , 2G059GG04 , 2G059GG08 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ01 , 2G059JJ02 , 2G059JJ14 , 2G059JJ18 , 2G059JJ19 , 2G059JJ22 , 2G059KK01 , 2G059MM01 , 2G059MM03 , 2G059MM08 , 2G065AA12 , 2G065AA13 , 2G065AB02 , 2G065AB09 , 2G065AB16 , 2G065AB23 , 2G065BA02 , 2G065BB14 , 2G065BB27 , 2G065BB32 , 2G065BB39 , 2G065BC05 , 2G065BC15 , 2G065DA08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

切削体と調理器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-047465 Applicant：東芝テック株式会社
ミリメートル波発振装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-260607 Applicant：郵政省通信総合研究所長, 寳迫巌

Return to Previous Page