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J-GLOBAL ID：200903081984650430

プローブ型光ファイバセンサ

Inventor：
谷川 民生

About 谷川 民生


Applicant, Patent owner：
独立行政法人産業技術総合研究所

About 独立行政法人産業技術総合研究所


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001356843
Publication number (International publication number)：2003156367
Application date： Nov. 22, 2001
Publication date： May. 30, 2003
Summary：
【要約】【課題】 グレーティング処理されたファイバを用いて、ファイバの曲げに対する歪みを計測する【解決手段】 本発明は、グレーティング処理した場所のファイバ表面に対し、何らかの剛性の偏りを施す。ファイバに対し剛性の偏りを作れば曲げ中心がコアからずれるため、コア部に圧縮または引っ張りの歪みが発生し、曲げ方向の力計測が可能となる。そこでグレーティング処理されているファイバの片面に対し、薄膜、接着剤、といった剛性の偏りを与える物を張り付け形状を変える、あるいはファイバのクラッド部分を研磨、エッチング処理し形状を変化させる方法を利用し、グレーティング処理部の剛性に偏りを持たせることで曲げ方向の力の計測を可能とする。
Claim (excerpt)：
コアとクラッドから構成されて該コアの一部がグレーティング処理されたファイバを備え、このグレーティング処理されたコア部分の外周に位置するクラッド表面の一部を研磨又はエッチング処理等により形状を変化させることで、もしくは該表面に剛性の偏りを施す部材を張り付けることでファイバと鉛直方向からの物理量を計測するプローブ型光ファイバセンサ。
IPC (5)：
G01D 5/26 ,  G01B 11/16 ,  G01G 9/00 ,  G01L 1/24 ,  G01P 15/03
FI (5)：
G01D 5/26 D ,  G01B 11/16 Z ,  G01G 9/00 ,  G01L 1/24 A ,  G01P 15/03 C
F-Term (18)：
2F065AA65 ,  2F065BB12 ,  2F065BB17 ,  2F065BB22 ,  2F065CC23 ,  2F065DD02 ,  2F065DD04 ,  2F065FF49 ,  2F065FF51 ,  2F065FF58 ,  2F065LL02 ,  2F065UU07 ,  2F103BA10 ,  2F103BA41 ,  2F103CA06 ,  2F103CA08 ,  2F103EC09 ,  2F103GA14
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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