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J-GLOBAL ID：200903081992307396

分光分析装置

Inventor： 榎 光一
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 縣 浩介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991357909
Publication number (International publication number)：1993172745
Application date： Dec. 25, 1991
Publication date： Jul. 09, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】S/N比が波長によって変化する場合に、測定波長域内でS/N比が設定値以上になっているように、スリット幅を制御できる分光分析装置を提供する。【構成】光源1からの光は分光器2で単色化され2光束に分割されて、2方向から交互に積分球3に入射し試料Sと標準白板Wを照射する。反射された光は光センサ4で受光されプリアンプ6で増幅された後切換器7および8を介して、バイパス13を通してCPU5に送られるか、ハイパスフィルタ9へ送られる。ハイパスフィルタ9に送られると、直流分がカットされノイズ成分が通過し、自乗回路10平均化回路11を経て自乗平均を表わす信号となり、A/D変換器12を介しCPU5にてS/N比が算出され、S/Nデータを所定値と比較し、所定値以下のときは、分光器2のスリット幅を拡げる。

Claim (excerpt)：

光センサ出力からノイズ成分を取出すハイパスフィルタと、このハイパスフィルタの出力を自乗平均する自乗回路と平均回路と、上記光センサの出力の上記平均化回路の出力に対する比を算出する手段と、この比が所定値以下のとき分光器のスリットを広げる制御手段とを有することを特長とする分光分析装置。

IPC (2)：

G01N 21/35 ,  G01J 3/30