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J-GLOBAL ID：200903082009067525

表面顕微鏡用探針及びそれを用いた表面顕微鏡

Inventor： 本多 幸雄
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 薄田 利幸 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991166690
Publication number (International publication number)：1993142315
Application date： Jul. 08, 1991
Publication date： Jun. 08, 1993
Summary：

【要約】【目的】表面形態情報と分離して正確な磁気情報を得るのに好適な表面顕微鏡及びその探針を提供すること。【構成】鋭く尖った先端を有する強磁性探針の周囲に、先端曲率の大きな非磁性体の層を設けた探針を備えた表面顕微鏡用探針及びこの探針を備えた表面顕微鏡。【効果】磁性試料の磁気情報とその形態情報を区別し、正確な磁気情報を高分解能で計測できる効果を有する。

Claim (excerpt)：

強磁性探針と、該強磁性探針の少なくとも先端の周囲に設けられた非磁性体とよりなることを特徴とする表面顕微鏡用探針。

IPC (2)：

G01R 33/10 ,  G01R 33/12