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J-GLOBAL ID：200903082072708751
パターン認識方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994223872
Publication number (International publication number)：1996086624
Application date： Sep. 20, 1994
Publication date： Apr. 02, 1996
Summary：
【要約】【構成】 パターン認識方法において、基準画像と検査画像とこれらの画像をマッチングしたマッチング画像とを微分2値化画像として作成し、それぞれを細線化処理する。作成した細線化基準画像と細線化検査画像と細線化マッチング画像との相関をとって検査対象物を評価判定する。【効果】 各画像について特徴線の幅の影響を排除でき、相関値のバラツキを小さくして正確にパターン認識できる。検査対象物の位置が厳密に決定されていない場合も、特徴線の幅の影響を排除して正確にパターン認識できる。
Claim (excerpt)：
基準となる検査対象物を撮影し、その画像データを微分2値化処理して基準検査対象物の輪郭線を抽出した基準画像をあらかじめ作成しておき、検査対象物を撮影し、その画像データを微分2値化処理して検査対象物の輪郭線を抽出した検査画像を作成し、この検査画像を前記基準画像とマッチングしてマッチング画像を作成し、前記基準画像と検査画像とマッチング画像をそれぞれ細線化処理して各々の細線化画像を作成し、作成した細線化基準画像と細線化検査画像と細線化マッチング画像との相関をとって検査対象物を評価判定することを特徴とするパターン認識方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G06F 15/62 400
, G06F 15/70 460 A
