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J-GLOBAL ID：200903082115828713

試料検査装置

Inventor： ヨハネス ヴィンテルロット ,  ディートマー シュミッツ ,  ディーター シャウ
Applicant, Patent owner： カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
Agent (1)： 松田 省躬
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000612731
Publication number (International publication number)：2002542480
Application date： Mar. 23, 2000
Publication date： Dec. 10, 2002
Summary：

【要約】【課題】試料容器内の、または試料担体上に配置された一つまたは複数の試料を透過光または投射光のもとで検査できる試料検査装置【解決手段】試料全体のうちの少なくとも一部について、試料容器または試料担体を通る光により、評価ユニット後方に配置されたCCDカメラ上に結像させ、および/または捕獲し、好ましいことに、投射光照射の場合でも試料容器または試料担体に対して同時に透過照射も行うことができて、照射が試料における放射励起、特に蛍光励起に用いられる。

Claim (excerpt)：

試料全体のうちの少なくとも一部について、試料容器または試料担体を通る光により、評価ユニット後方に配置されたCCDカメラ上に結像させ、および/または捕獲し、それによって試料容器内の、または試料担体上に配置された一つまたは複数の試料を透過光または投射光のもとで検査する装置

IPC (5)：

G01N 21/64 ,  G02B 7/28 ,  G02B 21/00 ,  G02B 21/24 ,  G03B 13/36

FI (6)：

G01N 21/64 E ,  G01N 21/64 F ,  G02B 21/00 ,  G02B 21/24 ,  G02B 7/11 J ,  G03B 3/00 A

F-Term (32)：

2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043EA14 ,  2G043FA02 ,  2G043GA06 ,  2G043GA07 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA08 ,  2G043HA09 ,  2G043HA11 ,  2G043JA02 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA03 ,  2G043NA05 ,  2H011AA06 ,  2H011BB01 ,  2H051AA11 ,  2H051BB31 ,  2H051CA01 ,  2H052AA09 ,  2H052AC34 ,  2H052AD09 ,  2H052AF06 ,  2H052AF14