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J-GLOBAL ID：200903082134781914

FBGセンサシステム

Inventor：
斉藤 崇記

About 斉藤 崇記


Applicant, Patent owner：
アンリツ株式会社

About アンリツ株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007136446
Publication number (International publication number)：2008014934
Application date： May. 23, 2007
Publication date： Jan. 24, 2008
Summary：
【課題】 FBGに入射する測定光に光パルスを用いて、ファイバ内で発生するレイリー散乱光の影響を低減することによって、例えFBGまでのファイバ長が80kmを越えるような場合であっても、その測定対象の測定を精度良く行えるFBGセンサシステムを提供する。【解決手段】 所定の波長範囲の光を含んで所定の掃引周期で波長掃引された光をLD1で発振させる波長可変光源10と、波長可変光源10から出力される上記波長掃引を行うための掃引信号aを受け、この掃引信号aに基づいて、波長可変光源10で発振される上記所定の波長範囲の光を測定光としてFBG15に入射させるための所定の周期のパルスdを発生させるパルス発生器11とを備え、上記パルスdで波長可変光源10の上記LD1の駆動電流をオン/オフさせることによって、上記所定の波長範囲の光でなる光パルスを発生させ、この光パルスを測定光としてFBG15に入射させるようにした。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
ファイバ(14)を介して測定対象に設けられたFBG(15)に所定の波長範囲の光を測定光として入射し、該測定光の反射光から当該FBGの反射波長を測定するFBGセンサシステムにおいて、 前記所定の波長範囲の光を含んで所定の掃引周期で波長掃引された光を半導体レーザ(1)で発振させることを可能にさせた波長可変光源(10)と、 該波長可変光源から出力される前記波長掃引を行うための掃引信号を受け、該掃引信号に基づいて、前記波長可変光源で発振される前記所定の波長範囲の光を前記測定光として前記FBGに入射させるための所定の周期のパルスを発生させるパルス発生器(11)と、 前記FBGに入射された前記測定光の該FBGからの反射光を受けて電気信号に変換する受光器(16)と、 該受光器から出力される前記電気信号に基づいて前記FBGの反射波長を測定する処理手段(17)とを備え、 前記パルスで前記波長可変光源の前記半導体レーザの駆動電流をオン/オフさせることによって、前記所定の波長範囲の光でなる光パルスを発生させ、該光パルスを前記測定光として前記ファイバに入射させるようにし、かつ、 前記波長可変光源の前記波長掃引を行うための掃引信号の前記所定の掃引周期は、前記測定光としての前記光パルスに対する前記FBGからの反射光の前記受光器での受光時間が該光パルスの前記ファイバへの入射の終了後となるような掃引周期であり、さらに、 前記パルスの前記所定の周期は、前記測定光としての前記光パルスの次の光パルスの前記ファイバへの入射時間が前記光パルスに対する前記FBGからの反射光の前記受光器での受光後となるような周期であることを特徴とするFBGセンサシステム。
IPC (2)：
G01D 5/353 ,  G01B 11/16
FI (2)：
G01D5/26 D ,  G01B11/16 G
F-Term (22)：
2F065AA65 ,  2F065DD04 ,  2F065FF31 ,  2F065FF41 ,  2F065FF48 ,  2F065FF51 ,  2F065GG06 ,  2F065GG25 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL02 ,  2F065LL42 ,  2F103BA10 ,  2F103BA41 ,  2F103CA04 ,  2F103CA06 ,  2F103EB02 ,  2F103EB05 ,  2F103EC03 ,  2F103EC08 ,  2F103EC09 ,  2F103EC17
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (10)
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