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J-GLOBAL ID：200903082230331849

米品質評価装置の表示システム

Inventor： 杉山 隆夫 ,  牧野 英二 ,  市川 友彦 ,  藤岡 定和 ,  森 泰一 ,  江守 元彦 ,  渡辺 利通 ,  藁科 二郎 ,  川中 道夫 ,  清水 昭佳 ,  松下 和樹
Applicant, Patent owner： 生物系特定産業技術研究推進機構 ,  井関農機株式会社 ,  株式会社ケット科学研究所 ,  静岡製機株式会社 ,  株式会社クボタ
Agent (1)： 森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997172671
Publication number (International publication number)：1999023562
Application date： Jun. 30, 1997
Publication date： Jan. 29, 1999
Summary：

【要約】【課題】 経験の少ない人でも、サンプル米の総合的な評価を容易に判断することができる米品質評価装置の表示システムを提供する。【解決手段】 白米品質測定手段で得た白米サンプルの品質評価値と玄米品質測定結果および白米品質測定結果に基づくデータとから総合評価値を算出し、この総合評価値を表示させる。総合評価値としては、白米サンプル品質評価値と搗精の難易度と優良粒率とから算出表示させる。これにより、経験の少ない米の取扱者にとってもサンプル米の総合的な評価を容易に認識することができ、白米の品質評価に加えて、搗精が容易で搗精のための電気代が安価となるなどの利点や、精米することにより優良粒が増加するなどの利点も勘案されて、サンプル米が有する価値を容易かつ適切に知ることができる。

Claim (excerpt)：

精米部と、サンプル玄米の品質を測定する玄米品質測定手段と、サンプル白米の品質を測定する白米品質測定手段と、前記白米品質測定手段で得たサンプル白米の品質評価値と前記玄米品質測定結果および白米品質測定結果に基づくデータとから総合評価値を算出する演算手段と、この総合評価値を表示させる表示手段とを備えた米品質評価装置の表示システム。

IPC (3)：

G01N 33/10 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/85

FI (3)：

G01N 33/10 ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 21/85 A