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J-GLOBAL ID:200903082291244523
検品方法とその装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高崎 芳紘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996138217
Publication number (International publication number):1997319841
Application date: May. 31, 1996
Publication date: Dec. 12, 1997
Summary:
【要約】【課題】 低価格でデータ量が多く、薄くシール状に形成して物品に張り付つけることが可能であり、かさばらないデータキャリアを用いた検品装置を実現する。【解決手段】 物品2に取り付けられるデータキャリアを1個または複数個の共振回路で構成し、異なる物品には共振回路の個数とその共振周波数の少なくともどれかが異なっているようにする。電磁波発生手段12は、その周波数が時間的に変化する電磁波を発生し、それをアンテナ8から出力してデータキャリア4へ印加し、アンテナ10で受信する。電磁波受信手段14は、各周波数における受信レベルを検出して周波数スペクトルを出力し、演算手段16は、このスペクトルの、データキャリアのあるときとないときの差から、どの共振回路を持つ共振回路が存在しているかを検出して当該物品の情報を得る。
Claim (excerpt):
異なる情報を有する物体には搭載される共振回路の個数またはその共振周波数の少なくとも一部が相異なるところのデータキャリアを付設するとともに、該データキャリアを付設した物体にその周波数が時間的に変化する検知用電磁波を印加し、各周波数における共振の有無を検出することによって当該物体に関する情報を検出することを特徴とする物体の検品方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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特開昭63-010293
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IDカード
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-270960
Applicant:エスエムケイ株式会社
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特開平2-195492
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特開平2-198382
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非接触ICカード用リーダライタ及び非接触ICカード用リーダライタシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-182434
Applicant:三菱電機セミコンダクタソフトウエア株式会社, 三菱電機株式会社
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物品識別装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-150844
Applicant:株式会社テック
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