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J-GLOBAL ID:200903082295054800

走査型レーザ顕微鏡および観察方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 上田 邦生 ,  藤田 考晴
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008024495
Publication number (International publication number):2008216996
Application date: Feb. 04, 2008
Publication date: Sep. 18, 2008
Summary:
【課題】連続レーザ光により刺激を与えながら、自家蛍光を含まない明るく鮮明な多光子蛍光画像を取得する。【解決手段】超短パルスレーザ光を発生する第1のレーザ光源2と、超短パルスレーザ光を標本A上において2次元的に走査させる走査部7と、連続レーザ光を発生する第2のレーザ光源3と、連続レーザ光の標本A上における2次元的な照射位置の調節を行う照射位置調節部8と、超短パルスレーザ光および連続レーザ光を標本A上に集光する一方、標本Aにおいて発生した蛍光を集光する対物レンズ10と、該対物レンズ10と走査部7との間の光路から分岐された蛍光を検出する光検出器12と、光検出器12が第1のレーザ光源2からの超短パルスレーザ光に基づく標本Aからの必要な蛍光を検出していないときに、第2のレーザ光源3からの連続レーザ光の照射を許容する連続レーザ光スイッチング手段5とを備える走査型レーザ顕微鏡1を提供する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
超短パルスレーザ光を発生する第1のレーザ光源と、 該第1のレーザ光源から発せられた超短パルスレーザ光を標本上において2次元的に走査させる走査部と、 連続レーザ光を発生する第2のレーザ光源と、 該第2のレーザ光源から発せられた連続レーザ光の標本上における2次元的な照射位置の調節を行う照射位置調節部と、 前記超短パルスレーザ光および前記連続レーザ光を標本上に集光する一方、標本において発生した蛍光を集光する対物レンズと、 該対物レンズと前記走査部との間の光路から分岐された蛍光を検出する光検出部と、 該光検出部が前記第1のレーザ光源からの超短パルスレーザ光に基づく標本からの必要な蛍光を検出していないときに、前記第2のレーザ光源からの連続レーザ光の照射を許容する連続レーザ光スイッチング手段とを備える走査型レーザ顕微鏡。
IPC (2):
G02B 21/06 ,  G01N 21/64
FI (2):
G02B21/06 ,  G01N21/64 E
F-Term (25):
2G043BA16 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA06 ,  2G043GA08 ,  2G043GB18 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA06 ,  2G043HA09 ,  2G043HA11 ,  2G043HA15 ,  2G043JA02 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC14 ,  2H052AC34
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 走査型光学観察装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2004-178253   Applicant:オリンパス株式会社
Cited by examiner (5)
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