Pat

J-GLOBAL ID：200903082421988430

画像解析装置

Inventor： 上 邦彰 ,  山口 達也 ,  塚谷 隆志 ,  権藤 雅彦 ,  高山 修一
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991314889
Publication number (International publication number)：1993146433
Application date： Nov. 28, 1991
Publication date： Jun. 15, 1993
Summary：

【要約】【目的】 病変である確率が正確に分かる画像解析装置を提供することを目的とする。【構成】 被検体に対応する画像信号データを解析して病変部位に関連づけられる特徴量を求める特徴量算出部11と、特徴量と病変部位との相関データを記憶するデータテーブル22と、前記データを用いて前記特徴量算出部11で求められた特徴量から病変部位である可能性を求める正解率算出部23と、前記正解率算出部23により求められた特徴量に対応する部位が病変部位である可能性に応じて表示状態を定量的に変化するカラーデータを生成するカラーデータ生成部24とを設けている。

Claim (excerpt)：

被検体に対応する画像信号データを解析して組織の特徴量を求める特徴量算出手段と、検出することを目的とする被検組織とこの被検組織の特徴量との相関関係を表すデータを記憶するデータ記憶手段と、前記データを用いて前記特徴量算出手段で求められた特徴量から検出を目的とする被検組織である可能性を判定する判定手段と、前記判定手段の判定結果により前記特徴量算出手段で求められた特徴量に対応する部位が検出を目的とする被検組織である可能性に応じて表示状態を変化する表示制御手段と、を設けたことを特徴とする画像解析装置。

IPC (4)：

A61B 8/00 ,  G01N 29/06 ,  G06F 15/336 ,  G06F 15/62 390

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-014839
  
• 特開昭63-122437