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J-GLOBAL ID:200903082468237166

眼光学測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 日比谷 征彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992359608
Publication number (International publication number):1994189905
Application date: Dec. 24, 1992
Publication date: Jul. 12, 1994
Summary:
【要約】【目的】 1台の装置で角膜の曲率半径と被検レンズの屈折力の測定を行い得るようにする。【構成】 角膜測定用光源21からの光束は被検眼Eの角膜Ec上で一旦光源像として結像し、反射光束はハーフミラー17により直交する方向に分割され、それぞれ、ラインアレイセンサ13、15上で4つの角膜反射像として投影される。信号処理器22において、計8つの角膜反射像の受光位置を解析して角膜Ecの乱視を含む屈折力又は曲率を求める。レンズ測定用光源1からの光束は、被検レンズG、絞り5の4つの開口部、ハーフミラー2で2方向に分割され、それぞれラインアレイセンサ13、15上に4本の線状のレンズ透過光束像としてそれぞれ結像する。信号処理器22において、計8本の線状のレンズ透過光束像の受光位置を解析して被検レンズGの屈折力を求める。
Claim (excerpt):
光軸の周囲に設置した光源による角膜反射像をラインアレイセンサに受光する第1の受光光学系と、前記光源の配置と相似な形状の光束により装用矯正レンズを照明する光束制限手段と、前記装用矯正レンズからの透過光束を前記ラインアレイセンサで受光する第2の受光光学系と、前記ラインアレイセンサからの信号を基に角膜曲率半径及び装用矯正レンズの屈折力を求める信号処理手段とを有することを特徴とする眼光学測定装置。
IPC (3):
A61B 3/103 ,  A61B 3/107 ,  G01B 11/24
FI (2):
A61B 3/10 D ,  A61B 3/10 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特開平3-060629
  • 特開平3-097435
  • 特開昭63-015938

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