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J-GLOBAL ID：200903082473370893
焼入硬化層深さの非破壊測定方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小塩 豊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993057490
Publication number (International publication number)：1994271926
Application date： Mar. 17, 1993
Publication date： Sep. 27, 1994
Summary：
【要約】【目的】 被測定部品を切断することなく、簡便かつ迅速に測定することができ、しかも焼入硬化層深さを確実に検出することのできる焼入硬化層深さの非破壊測定方法を提供する。【構成】 テストピース1を第1の誘導コイル3と該誘導コイル3に同軸に配設した第1の被誘導コイル3に挿通し、マスタピース2を第2の誘導コイル5と該誘導コイル5に同軸に配設した第2の被誘導コイル6に挿通した状態で、前記第1および第2の誘導コイル3,5に誘導電圧を印加した場合に、第1および第2の被誘導コイル4,6に発生する被誘導電圧ベクトルの合成ベクトルと誘導電圧ベクトルとの位相差θを測定し、あらかじめ求めておいた位相差θと焼入硬化層深さの関係からテストピースの焼入硬化層深さを得る。
Claim (excerpt)：
マスタピース側の被誘導コイルに発生する被誘導電圧ベクトルとテストピース側の被誘導コイルに発生する被誘導電圧ベクトルとの合成ベクトルと、誘導コイルに印加した誘導電圧ベクトルとの間の位相差を用いて焼入硬化層深さを測定することを特徴とする焼入硬化層深さの非破壊測定方法。
IPC (2)：
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