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J-GLOBAL ID：200903082497558044
電子写真用感光体およびその製造方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
本多 一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996211026
Publication number (International publication number)：1997258469
Application date： Aug. 09, 1996
Publication date： Oct. 03, 1997
Summary：
【要約】【課題】 導電性基体の影響を減らすために中間層として厚膜の下引層を用いても、環境、変化に対し電気特性の変化が少なく、また繰返し使用に対しても帯電特性が変化せず、しか残留電位が上昇することもない、環境等の変化や使用状況により画像に不具合を生じない電子写真感光体を提供する。【解決手段】 下引層を構成するバインダー樹脂中に酸化チタン微粒子、酸化ジルコニウム微粒子、酸化アルミニウム微粒子及び酸化セリウム微粒子からなる群から選ばれた少なくとも1種の金属酸化物微粒子が分散され、該金属酸化物微粒子の表面に有機ケイ素化合物表面処理剤が結合されている。該金属酸化物微粒子表面への有機ケイ素化合物の結合量がSi原子と金属原子の存在比率を以てX線光電子分光法により分析したときに、ピーク強度比(Si2p/Me2p(MeはTi、Zr又はAl)又はSi2p/Ce3d)が0.15〜0.6であり、前記下引層のイオン性不純物の含有量が1ppm以下である。
Claim (excerpt)：
導電性基体上に少なくとも下引層と感光層とを積層してなる電子写真用感光体において、前記下引層を構成するバインダー樹脂中に酸化チタン微粒子、酸化ジルコニウム微粒子、酸化アルミニウム微粒子及び酸化セリウム微粒子からなる群から選ばれた少なくとも1種の金属酸化物微粒子が分散され、該金属酸化物微粒子の表面に有機ケイ素化合物表面処理剤が結合されてなり、該金属酸化物微粒子表面への有機ケイ素化合物の結合量がSi原子と金属原子の存在比率を以てX線光電子分光法(XPS法)により分析したときに、結合エネルギースペクトルにおいて金属原子の2p電子(Me2p)(但し、MeはTi、Zr又はAlを表す)又は3d電子(Ce3d)(金属原子がCeの場合である)とSi原子の2p電子(Si2p)とのピーク強度比(Si2p/Me2p又はSi2p/Ce3d)が0.15〜0.6であり、前記下引層のイオン性不純物の含有量が1ppm以下であることを特徴とする電子写真用感光体。
IPC (3)：
G03G 5/14 101
, G03G 5/14
, G03G 5/00 101
G03G 5/14 101 E
, G03G 5/14 101 D
, G03G 5/00 101
Cited by examiner (6)
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