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J-GLOBAL ID：200903082521730848

多次元形状の座標計測システム及び測定情報の教示方法

Inventor： 坂田 俊一 ,  佐々木 豊春
Applicant, Patent owner： 財団法人熊本テクノポリス財団 ,  株式会社ニコン
Agent (1)： 黒田 博道 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995121192
Publication number (International publication number)：1996314997
Application date： May. 19, 1995
Publication date： Nov. 29, 1996
Summary：

【要約】【目的】 多次元形状の座標計測システムにおいて、結果データや測定命令に互換性を与え、データの管理や整理の自動化を容易に実施できるようにする。【構成】 データを入力するCADデータ入力部105と、このCADデータを表示するCAD図形表示部104と、測定命令や測定条件及び評価方法等を教示する測定条件入力部107及び測定命令入力部110と、測定命令や測定条件及び評価方法等に従って測定機を動作させる測定命令を作成する測定情報作成成部112と、測定命令に従った測定機に入力可能なデータを測定機に出力する測定機命令出力部121と、測定された測定座標値を入力する測定座標値入力部120と、入力された測定座標値と教示された測定情報によって評価を行う評価部117と、教示された測定情報と評価された結果とを自動的に関連付けて画面に表示する評価結果表示部113と、評価された結果を外部装置に対して出力する評価結果出力部119と、を有するシステムとする。

Claim (excerpt)：

多次元形状である被測定物の所要の位置における座標値を測定し、寸法や形状等を測定・評価する装置において、予め作成されているCADデータを入力するCADデータ入力部と、入力されたCADデータを表示するCAD図形表示部と、表示されたCAD図形に対して測定条件を教示入力する測定条件入力部と、測定命令や評価方法等の所要の測定情報を教示入力する測定命令入力部と、教示された測定命令や測定条件及び評価方法等に従って、座標測定機を動作させるための測定命令を作成する測定情報作成部と、作成された測定命令に従った測定機に入力可能なデータを測定機に出力する測定機命令出力部と、測定機によって測定された測定座標値を入力する測定座標値入力部と、入力された測定座標値と予め教示された測定情報の内容に従って、被測定物の寸法や形状等の評価を行う評価部と、予め教示された測定情報と評価された結果とを自動的に関連付けて、数値や図形で画面に表示する評価結果表示部と、評価された結果を外部装置に対して、所定の形式で出力する評価結果出力部と、を有する事を特徴とする多次元形状の座標計測システム。

IPC (2)：

G06F 17/50 ,  G06T 1/00

FI (2)：

G06F 15/60 628 Z ,  G06F 15/62 380

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-218708
  
• 回路パターンの検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-075285   Applicant：新日本製鐵株式会社
• 測長装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-192424   Applicant：大日本スクリーン製造株式会社