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J-GLOBAL ID：200903082543430333

材料組織の非破壊評価方法

Inventor： 中居 則彦 ,  古屋 泰文
Applicant, Patent owner： 日本高周波鋼業株式会社 ,  古屋 泰文
Agent (1)： 開口 宗昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992080408
Publication number (International publication number)：1993249081
Application date： Mar. 02, 1992
Publication date： Sep. 28, 1993
Summary：

【要約】【目的】 各組織に対応したバルクハウゼンノイズを用いて材料組織を評価することができる方法を提供する。【構成】 フェライト基地に平均粒径1μm以下のセメンタイト粒子が析出している組織を磁化すると、磁化過程前半では平均結晶粒径が大きくなるにつれてBHNは少なくなる。一方磁化過程の中期、後期にかけては、セメンタイト粒子による磁壁のピンニング効果が起こると考えられ、平均セメンタイト粒径が大きくなると、粒子個数が減少し、後半部分のBHNは平均セメンタイト粒径の増大に伴い減少する。このように、磁化過程前半部のBHNからフェライト粒径を、磁化過程後半部のBHNから平均セメンタイト粒径を見つもることができる。BHNパラメータを求めるときのBHNの分割範囲は材料内部の組織因子の影響を反映した任意範囲とすることができる。

Claim (excerpt)：

材料の磁化過程で発生するバルクハウゼンノイズ(以下、BHNと記す)を少なくとも前半部と後半部とに2分割し、そのそれぞれのBHNに基づき材料組織を評価することを特徴とする材料組織の非破壊評価方法。