Pat
J-GLOBAL ID：200903082549751034
周波数特性測定法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991245491
Publication number (International publication number)：1993080091
Application date： Sep. 25, 1991
Publication date： Mar. 30, 1993
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】電子回路の周波数特性の測定法、特に、高周波領域における電子回路網の高速、かつ、高精度の周波数特性の測定に好適な周波数特性の測定方法を提供する。【構成】被測定回路網9の入出力パルス波形をサンプリングするパルスの繰り返し周波数とサンプリング周波数の整数倍の周波数の間に一定のオフセット周波数を与え、サンプリングした波形をA/D変換した後に、FFTによって広帯域の周波数特性測定を行う。【効果】広帯域における電子回路網の高速、かつ、高精度の周波数特性計測が可能となる。
Claim (excerpt)：
繰り返しパルスを被測定回路網に通して、その入出力パルス波形を前記繰り返しパルスの繰り返し周波数とサンプリング周波数の整数倍の周波数との間にビート周波数が生じるように設定された前記サンプリング周波数でサンプリングし、そのサンプリングデータから前記入出力パルス波形の周波数スペクトラムを演算することで前記被測定回路の周波数特性を測定するようにしたことを特徴とする周波数特性測定法。
IPC (2)：
Return to Previous Page
