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J-GLOBAL ID：200903082557937821

クリスタルベースの一致タイミング較正法

Inventor： ジョン・ジェイ・ウィリアムズ ,  デルシャン・ルオ ,  マーク・ケー・リンケマン ,  マイケル・ジェイ・クック ,  デビッド・エル・マクダニエル ,  エドウィン・エル・オスウォルト ,  マーク・ピー・フェイレン
Applicant, Patent owner： ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
Agent (3)： 松本 研一 ,  小倉 博 ,  伊藤 信和
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003369781
Publication number (International publication number)：2004151105
Application date： Oct. 30, 2003
Publication date： May. 27, 2004
Summary：

【課題】 クリスタルベースの一致タイミング較正法を提供する。【解決手段】 各検出器のための検出器調整値を求め、各検出器内の各クリスタルのためのクリスタル調整値を求め、各クリスタルのためのクリスタル調整値を離散化して各クリスタルのクリスタル調整離散値を計算することが含まれる。各検出器内の各クリスタルのためのクリスタル調整離散値を一致事象を示す収集されたタイミングデータに適用することによって、各検出器を較正する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

PETスキャナの検出リング内の検出器を較正する方法であって、各検出器は複数のクリスタルを備え、前記PETスキャナには視野があり、 前記視野内の各ペアのクリスタル間で生じた一致事象を示すタイミングデータを収集する工程と、 各検出器のための検出器調整値を求める工程と、 各検出器内の各クリスタルのためのクリスタル調整値を求める工程と、 各クリスタルのための前記クリスタル調整値を離散化して、各クリスタルのためのクリスタル調整離散値を計算する工程と、 各検出器内の各クリスタルのための前記クリスタル調整離散値を一致事象を示す前記収集タイミングデータに適用することによって各検出器を較正する工程を備える方法。

IPC (2)：

G01T1/161 ,  G01T1/172

FI (3)：

G01T1/161 C ,  G01T1/161 A ,  G01T1/172

F-Term (13)：

2G088EE02 ,  2G088FF07 ,  2G088GG17 ,  2G088GG18 ,  2G088JJ02 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK01 ,  2G088KK15 ,  2G088KK29 ,  2G088KK33 ,  2G088KK35 ,  2G088LL26 ,  2G088LL30

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 米国特許第5、272、344号