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J-GLOBAL ID：200903082601198640

歪み測定装置

Inventor： 飛田 仁 ,  芦田 吏史 ,  谷川 雅之 ,  石原 照久 ,  生田 芳子
Applicant, Patent owner： 日立造船株式会社
Agent (1)： 森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998026287
Publication number (International publication number)：1999223513
Application date： Feb. 09, 1998
Publication date： Aug. 17, 1999
Summary：

【要約】【課題】狭い範囲の歪みを精度良く検出する。【解決手段】ゲージ本体2を、光ファイバにより、光パルスの透過減衰量が極めて少ない湾曲半径の湾曲部11と、計測ゲージ長Lに形成された直線計測部12とで、直線計測部12が互いに平行に配置される周回経路13を形成して、平面上でこの周回経路13を位置ずれして複数回巻回することにより、湾曲部11と直線計測部12の合計長さがこの光ファイバによる平均歪みを計測可能な直線固有ゲージ長以上となるように構成し、前記直線計測部12を歪み方向に沿うようにゲージ本体2を被計測物の計測平面1に固定した。

Claim (excerpt)：

歪み計測器により被計測物に固定した光ファイバに光パルスを入力し、光ファイバの歪みにより生じる光パルスの後方散乱光を測定して被計測物の歪みを検出する光ファイバを使用した歪み測定装置であって、ゲージ本体を、光ファイバにより、光パルスの透過減衰量が極めて少ない湾曲半径の湾曲部と、計測ゲージ長に形成された直線計測部とで、直線計測部が互いに平行に配置される周回経路を形成して、平面上でこの周回経路を位置ずれして複数回巻回することにより、湾曲部と直線計測部の合計長さがこの光ファイバによる平均歪みを計測可能な直線固有ゲージ長以上となるように構成し、前記直線計測部を歪み方向に沿うように被計測物の計測平面に固定したことを特徴とする歪み測定装置。

IPC (3)：

G01B 11/16 ,  G01L 1/24 ,  G02B 6/00

FI (3)：

G01B 11/16 Z ,  G01L 1/24 ,  G02B 6/00 B