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J-GLOBAL ID：200903082742798374
質量分析計データ処理装置およびデータ処理方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高田 幸彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003044291
Publication number (International publication number)：2004251830
Application date： Feb. 21, 2003
Publication date： Sep. 09, 2004
Summary：
【課題】MS1、MSn測定を同時に行って得られたデータのマススペクトル出力、表示を簡単に行えるようにしてデータ処理操作の効率を高める。【解決手段】クロマトグラフ装置から導入された試料をイオン化し、イオンを捕捉可能なイオントラップにより質量分析を行う質量分析装置が使用される。MS1、MSn測定を単位時間内で並行して行い、複数の条件のデータを一時に得る。並列データとして関連づけて得られたMS1データのクロマトグラムデータから、MS1データのマススペクトルに加えて同時に測定した複数のMSnデータのマススペクトルを表示させる。MS1測定と単位時間内で同時に複数のMSn測定を行うことができるデータ測定方法に伴い複雑化したデータ処理操作を簡便にする。【選択図】 図6
Claim (excerpt)：
1回の試料注入で、MS1分析結果を示すMS1データであって、時間軸上でイオン信号強度の変移を表すクロマトグラムデータと、各時間単位毎に取得したマススペクトルデータとに並行して測定した選択イオンに対するMSn(nは2以上の整数)分析結果を示すMSnデータであるマススペクトルデータと、MSnデータのクロマトグラムデータとが記憶装置に記憶され、MS1およびMSnデータが一つの画面に表示されるようにした質量分析計データ処理装置において、
前記並行して測定した時に、MS1データと、MSnデータとが並行データであると関連づけて前記記憶装置に記憶されており、
画面上に、時間軸上で選択されて表示されたMS1およびMSnのいずれかの1つのクロマトグラムデータについてイオン信号強度の範囲が指定されると、指定範囲が表示された当該1つのクロマトグラムデータと、当該指定範囲内における測定されたMS1およびMSnマススペクトルデータが一括して表示されること
を特徴とする質量分析計データ処理装置。
IPC (4)：
G01N27/62
, G01N30/72
, G01N30/86
, H01J49/42
G01N27/62 C
, G01N27/62 D
, G01N27/62 X
, G01N30/72 A
, G01N30/72 C
, G01N30/86 D
, G01N30/86 G
, H01J49/42
