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J-GLOBAL ID：200903082894132614

測距装置、撮影装置および背景処理装置

Inventor： 鈴木 明
Applicant, Patent owner： 株式会社リコー
Agent (1)： 真田 修治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996153169
Publication number (International publication number)：1997318870
Application date： May. 24, 1996
Publication date： Dec. 12, 1997
Summary：

【要約】【課題】 広い被写界視野に3次元的に被写体が存在する場合にも、正確に且つ高速に測距視野内の主要な被写体を抽出し、その主要被写体部分の像ずれ量または距離を検出することを可能とする。【解決手段】 画像情報検出部1は、一対の光電変換素子列1Lおよび1Rを有する。光電変換素子列1Lおよび1Rは、基線長を存して配置された測距光学系により形成される一対の被写体像をそれぞれ光電変換する。左右の画像情報は、各端部より互いに対応してほぼ同時に出力される。画像情報検出部1からの画像情報出力は、主要被写体検出部2に与えられる。主要被写体検出部2は、画像情報検出部1からの画像情報出力に基づいて主要被写体像を検出し、その主要被写体像の像ずれ量を算出する。

Claim (excerpt)：

基線長を存して配設される左右一対の測距光学系と、前記一対の測距光学系により形成される被写体光学像をそれぞれ光電変換する左右一対の光電変換素子列を有し、これら一対の光電変換素子列で光電変換される一対の画像情報を、左右の各光電変換素子列の端部より順次出力する画像情報検出部と、前記画像情報検出部からの左右一対の画像情報出力を順次処理して主要被写体を検出し、主要被写体の像ずれ量を検出する主要被写体検出部と、を具備することを特徴とする測距装置。

IPC (5)：

G02B 7/34 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G02B 7/28 ,  G03B 13/36

FI (5)：

G02B 7/11 C ,  G01B 11/00 A ,  G01C 3/06 V ,  G02B 7/11 N ,  G03B 3/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-056915
  
• 特開昭60-036906
  
• 特公平5-010603