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J-GLOBAL ID：200903082896758847
粒度分布測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
福村 直樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992073889
Publication number (International publication number)：1993273114
Application date： Mar. 30, 1992
Publication date： Oct. 22, 1993
Summary：
【要約】【目的】 この発明の目的は、広い測定レンジを有するコンパクトな粒度分布測定装置を提供することにある。【構成】 この発明の粒度分布測定装置は、レーザー光を粒子に照射することにより生じる散乱光を、レンズにより、レーザー光軸に垂直に配置された散乱光検出器面上に結像させて、その強度分布を測定し、その測定結果から粒度分布を求める粒度分布測定装置において、レーザー光の光軸を調整するための光軸調整用受光素子を散乱光検出用受光素子として共用してなることを特徴とする。
Claim (excerpt)：
レーザー光を粒子に照射することにより生じる散乱光を、レンズにより、レーザー光軸に垂直に配置された散乱光検出器面上に結像させて、その強度分布を測定し、その測定結果から粒度分布を求める粒度分布測定装置において、レーザー光の光軸を調整するための光軸調整用受光素子を散乱光検出用受光素子として共用してなることを特徴とする粒度分布測定装置。
Patent cited by the Patent：
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