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J-GLOBAL ID:200903082897355266

磁性粒子検出

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 青山 葆 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001111643
Publication number (International publication number):2002005892
Application date: Apr. 10, 2001
Publication date: Jan. 09, 2002
Summary:
【要約】【課題】 サンプル内部の磁性粒子の数を検出する方法及び装置を、簡易化しスピードを向上させる。【解決手段】 コンデンサとコイルを有する同調回路を利用してサンプル内部の磁性粒子の数を判定する方法において、サンプルがコイルにより形成された磁場に晒されたときと、サンプルがコイルにより形成された磁場に晒されないときとの、同調回路の共振周波数の差異を判定するステップaと、共振周波数の差異を利用してサンプル内部の磁性粒子の数を判定するステップbとを含む、方法を提供する。
Claim (excerpt):
コンデンサとコイルを有する同調回路を利用してサンプル内部の磁性粒子の数を判定する方法であって、(ステップa)サンプルがコイルにより形成された磁場に晒されたときと、サンプルがコイルにより形成された磁場に晒されないときとの、同調回路の共振周波数の差異を判定するステップaと、(ステップb)共振周波数の差異を利用してサンプル内部の磁性粒子の数を判定するステップbとを含む、方法。
IPC (2):
G01N 27/72 ,  G01N 33/543 541
FI (2):
G01N 27/72 ,  G01N 33/543 541 A
F-Term (11):
2G053AB01 ,  2G053BA02 ,  2G053BA04 ,  2G053BA08 ,  2G053BB11 ,  2G053BC02 ,  2G053BC07 ,  2G053CA03 ,  2G053CA19 ,  2G053DA02 ,  2G053DA07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (12)
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