Pat

J-GLOBAL ID：200903082931396872

表面からの質量分光測定

Inventor： ホワイトハウス、 クレイグ、 エム. ,  アンドリエン、 ブラス、 エー. ジュニア.
Applicant, Patent owner： アナリティカ オブ ブランフォード インコーポレーテッド
Agent (1)： 金倉 喬二
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000528995
Publication number (International publication number)：2002502086
Application date： Jan. 22, 1999
Publication date： Jan. 22, 2002
Summary：

【要約】飛行時間質量スペクトロメータ(1)にはパルス領域(10)と電子制御部とを配置して、飛行時間パルス領域(10)における表面(12)へイオンを指向させる。前記表面(12)またはその近くにて前記イオンの収集から生じたイオンの集団を次いで質量対電荷分析のため飛行時間チューブ(17)中へ加速する。前記表面(12)から離れて発生したイオンは、高もしくは低表面衝突エネルギーにて表面(12)に指向させることができる。表面(12)に対する高エネルギーイオン衝突は表面誘発解離断片化を生ぜしめ、得られるイオン断片集団を質量分析することができる。質量分析は、イオンを表面に指向させる前に行ってSIDによるMS/MS飛行時間質量分析を可能にする。殆どまたは全くイオン断片化をもたらさないイオンと表面との低エネルギー衝突もしくは軟着陸は、表面収集イオンを飛行時間チューブ中へ加速する前に表面またはその近くにイオンを空間集中させる手段を与える。

Claim (excerpt)：

(a) パルス領域と検出器とからなる飛行時間質量分析器;(b) 前記パルス領域は収集表面を備え;(c) 前記表面より離れた試料物質からイオンを発生させるイオン供給源;(d) 前記イオンを前記表面の方向へ指向させる手段;(e) 前記イオンを前記TOF質量分析器中へ加速する手段を備えることを特徴とする化学物質の分析装置。

IPC (4)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/42

FI (4)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 K ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/42

F-Term (3)：

5C038FF04 ,  5C038JJ04 ,  5C038JJ11