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J-GLOBAL ID：200903082963292998

光ファイバセンサ

Inventor： 菅井 栄一 ,  渡部 清昭 ,  山賀 一徳 ,  藤田 清一
Applicant, Patent owner： エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社 ,  株式会社東京測器研究所 ,  株式会社東亜測器
Agent (1)： 山川 政樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002015384
Publication number (International publication number)：2003214907
Application date： Jan. 24, 2002
Publication date： Jul. 30, 2003
Summary：

【要約】【課題】 比較的小さな張力でかつ高い感度で、変位、荷重、圧力、磁力、加速度等の物理量を高精度に検出するとともに、一つのFBGで温度補償もしくは温度変化による影響を低減する。【解決手段】 ファイバグレーティング(FBG)2が書き込まれた光ファイバ1の両端部は、第1および第2の固定部材3,4に固定されている。これら第1および第2の固定部材3,4は不動部材6に不動作状態で固定されている。光ファイバ1の中央に固定した第1の可動部材5には、光ファイバ1の軸線方向と直交する方向に被測定物からの物理量が与えられる。光ファイバ1の張力が変化し、FBG2の伸縮を介して、FBG2からの反射光または透過光の波長シフト量として検出手段によって検出される。

Claim (excerpt)：

ファイバグレーティングが書き込まれた光ファイバと、この光ファイバの両端部を固定する第1の固定部材および第2の固定部材と、これら第1および第2の固定部材を固定する不動部材と、前記光ファイバの前記ファイバグレーティングを含まない両端部間に光ファイバを介在した第1の可動部材と、この第1の可動部材に光ファイバの軸線方向とある角度を有する方向に物理変化量を与える被測定物とにおいて、この被測定物から与えられる物理変化量を光ファイバの張力変化量に変換し、前記ファイバグレーティングの伸縮を介して、ファイバグレーティングからの反射光または透過光の波長シフト量として検出する検出手段とを備えたことを特徴とする光ファイバセンサ。

IPC (6)：

G01D 5/26 ,  G01B 11/16 ,  G01L 1/24 ,  G01P 15/03 ,  G01R 33/032 ,  G01F 11/26

FI (6)：

G01D 5/26 D ,  G01B 11/16 G ,  G01L 1/24 A ,  G01P 15/03 C ,  G01R 33/032 ,  G01F 11/26

F-Term (14)：

2F065AA65 ,  2F065FF49 ,  2F065LL02 ,  2F065LL41 ,  2F103BA01 ,  2F103BA10 ,  2F103BA37 ,  2F103CA09 ,  2F103EC09 ,  2F103GA15 ,  2G017AB05 ,  2G017AC09 ,  2G017AD11 ,  2G017BA09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 光水位検出器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-320659   Applicant：富士電機株式会社
• 光ファイバブラッグ回折格子の温度補償装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-292558   Applicant：古河電気工業株式会社