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J-GLOBAL ID：200903083017474594

断層撮影装置

Inventor： 宇野 往道
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 杉谷 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993123535
Publication number (International publication number)：1994304162
Application date： Apr. 26, 1993
Publication date： Nov. 01, 1994
Summary：

【要約】【目的】 簡単な条件設定で最適濃度の断層写真が得られる断層撮影装置を提供する。【構成】 被検体Mを挟んだX線管2とフィルム3とは設定された軌道方式で移動され、X線管制御部6に制御されてX線管2から所定のパルスX線が曝射される。被検体Mを透過後のX線量がX線量検出器9で検出され、フィルム3に入射する。X線量検出器9で検出されたX線量に応じたデータが、X線発生調整部7で積算され、その積算値が、最適濃度の断層写真を得るための、1パルスにおける所定のしきい値を越えたとき、X線発生調整部7はX線管制御部6にX線の曝射を遮断させる。各パルスごとに所定の入射X線量となるようにパルスX線の実曝射時間を制御することにより、撮影終了時に、最適な入射X線量がフィルム3に入射される。

Claim (excerpt)：

X線管と被検体とフィルムとの内、いずれか2つを移動させて、前記フィルムに前記被検体の載断面の断層写真を撮影する断層撮影装置において、前記X線管に対して、所定の管電圧、管電流による所定パルス間隔のパルスX線の発生と、遮断とを制御するX線発生制御手段と、前記フィルムの感度と撮影時間とを特定する情報を設定する設定手段と、前記X線管から曝射され、前記被検体を透過して前記フィルムに入射する入射X線量を検出する入射X線量検出手段と、断層撮影中、前記入射X線量検出手段で検出される前記フィルムへの入射X線量を積算し、断層写真の濃度が最適となる前記フィルムへの入射X線量になるように、前記設定手段から設定された情報から特定されたフィルム感度と撮影時間、および前記X線管から発生されるX線のパルス間隔に基づいて決まる1パルスごとに前記フィルムに入射されるべき入射X線量のしきい値を、前記積算した積算値が越えたとき、前記X線発生制御手段に対してX線の曝射を遮断させ、前記入射X線量の積算値をクリアするように制御する曝射時間調整手段とを備えたことを特徴とする断層撮影装置。