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J-GLOBAL ID：200903083033758683

誘電定数の測定装置及びその測定方法

Inventor： 中山 明
Applicant, Patent owner： 京セラ株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993103116
Publication number (International publication number)：1994308177
Application date： Apr. 28, 1993
Publication date： Nov. 04, 1994
Summary：

【要約】【目的】1〜3GHzの周波数領域で、任意の形状の誘電体を高損失材料は勿論、低損失材料に対しても高精度で各種誘電定数を簡便に測定する。【構成】比誘電率と誘電正接が既知である誘電体を充填した空洞共振器を中央部で二分割して左右対称とし、その間に平板状の誘電体測定試料を挟んで構成した共振器のTE011 モードの共振周波数f0 と無負荷Qを測定して誘電体測定試料の誘電定数を求める。

Claim (excerpt)：

二分割した空洞共振器の空洞に、比誘電率と誘電正接が既知である誘電体を充填し、面一致とした分割面で平板状の誘電体試料を挟持して共振器を構成したことを特徴とする誘電定数の測定装置。