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J-GLOBAL ID：200903083149124070

カバーレイフィルムの欠陥検出法

Inventor： 杉谷 厚志 ,  小西 久司 ,  栄口 吉次
Applicant, Patent owner： 信越化学工業株式会社
Agent (1)： 山本 亮一 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996016293
Publication number (International publication number)：1997210658
Application date： Feb. 01, 1996
Publication date： Aug. 12, 1997
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】 カバーレイフィルム中に含有される気泡、異物、ゲル、糊欠などの欠陥を欠陥検出機で自動的に検出し、マーキングするカバーレイフィルムの欠陥検出法を提供する。【解決手段】 本発明によるカバーレイフィルムの欠陥検出法は、カバーレイフィルムの製造工程において、ポリイミドフィルムに接着剤を塗工し、ドライヤーで乾燥後、離型紙とラミネートする前に、カバーレイフィルムのポリイミドフィルム側から光を当て、透過光をCCDラインセンサーの画素子で受光し、光量によって生ずる電圧変化を信号処理し、信号レベルが予め設定した明暗の基準値以上、あるいは基準値以下である時に、気泡、異物、ゲル、糊欠などを欠陥として判別し、検出することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

カバーレイフィルムの製造工程において、ポリイミドフィルムに接着剤を塗工し、ドライヤーで乾燥後、離型材とラミネートする前に、カバーレイフィルムのポリイミドフィルム側から光を当て、透過光をCCDラインセンサーの画素子で受光し、光量によって生ずる電圧変化を信号処理し、信号レベルが予め設定した明暗の基準値以上、あるいは基準値以下である時に、気泡、異物、ゲル、糊欠などを欠陥として判別し、検出することを特徴とすカバーレイフィルムの欠陥検出法。

IPC (2)：

G01B 11/30 ,  C08J 7/04 CFG

FI (2)：

G01B 11/30 E ,  C08J 7/04 CFG

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 無地材料の品質検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-121761   Applicant：ダックエンジニアリング株式会社
• 特開平4-264790
  
• 透明シートの検査方法とその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-176877   Applicant：株式会社日立製作所, 日東電工株式会社