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J-GLOBAL ID：200903083243568143
四極子質量分析計
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
湯浅 恭三 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994207006
Publication number (International publication number)：1996077963
Application date： Aug. 31, 1994
Publication date： Mar. 22, 1996
Summary：
【要約】【目的】 広範囲の質量電荷数比の質量スペクトルが測定できる四極子質量分析計を提供する。【構成】 四極子電極に印加される直流電圧及び高周波電圧の安定/不安定領域を判別するためのマシュー線図の第2安定領域内の直流及び高周波の電圧(図1のaは直流電圧、qは高周波電圧に比例)を質量電荷数比M/Zの測定範囲のうちの小さい範囲(例えば、1〜50)に対して用い、一方、M/Zの大きい範囲(例えば、51〜2000)に対しては第1安定領域内の直流及び高周波の電圧を用いる。
Claim (excerpt)：
四極子電極部と、直流電圧と高周波電圧とが重畳された複合電圧を前記四極子電極部に印加する制御手段とを有し、イオンの質量電荷数比の所定の範囲の質量スペクトルを測定する四極子質量分析計において、前記制御手段が、直流電圧と高周波電圧とが重畳された電圧が印加された四極子電極により生成された電場に入射されたイオンが当該電場内で一定振幅を越えない安定な軌道を走行する状態が得られる直流電圧及び高周波電圧の個別の複数の安定領域のうちの少なくとも2つの安定領域のそれぞれを質量電荷数比の前記所定の範囲を分割した少なくとも2つの部分のそれぞれに対して対応させて用いて前記少なくとも2つの安定領域内の直流電圧と高周波電圧を前記四極子電極部に印加することを特徴とする四極子質量分析計。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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