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J-GLOBAL ID：200903083249665930

非接触メンタルストレス診断システム

Inventor：
松井 岳巳

About 松井 岳巳

, 
鈴木 哲

About 鈴木 哲

, 
藺牟田 隼人

About 藺牟田 隼人


Applicant, Patent owner：
公立大学法人首都大学東京

About 公立大学法人首都大学東京


Agent (9)： 小山 卓志 ,  田中 貞嗣 ,  阿部 龍吉 ,  菅井 英雄 ,  青木 健二 ,  韮澤 弘 ,  米澤 明 ,  飯高 勉 ,  片寄 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007099025
Publication number (International publication number)：2008253538
Application date： Apr. 05, 2007
Publication date： Oct. 23, 2008
Summary：
【課題】 簡単な構造で、心拍呼吸等による生体表面の微小変位を非接触で計測すると共に、その計測結果から生体の心拍変動指標を解析することができる非接触メンタルストレス診断システムを提供する。【解決手段】 被検体Pにマイクロ波を放射するマイクロ波放射手段10と、被検体Pからの反射波を受信するマイクロ波受信手段10とを備え、被検体Pの微小変位を非接触で計測する非接触メンタルストレス診断システム1において、反射波から心拍変動指標を解析する解析手段23を備えたことを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
被検体にマイクロ波を放射するマイクロ波放射手段と、前記被検体からの反射波を受信するマイクロ波受信手段とを備え、前記被検体の微小変位を非接触で計測する非接触メンタルストレス診断システムにおいて、前記反射波から心拍変動指標を解析する解析手段を備えたことを特徴とする非接触メンタルストレス診断システム。
IPC (3)：
A61B 5/024 ,  A61B 5/18 ,  A61B 5/16
FI (4)：
A61B5/02 320Z ,  A61B5/02 320C ,  A61B5/18 ,  A61B5/16 300B
F-Term (9)：
4C017AA02 ,  4C017AA10 ,  4C017AB04 ,  4C017AC20 ,  4C017AC28 ,  4C017BC21 ,  4C038PP01 ,  4C038PQ03 ,  4C038PS00
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 非接触診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-129820   Applicant：株式会社タウ技研
Cited by examiner (10)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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