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J-GLOBAL ID:200903083250622455
断層画像データのセグメント化方法および画像処理システム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
山口 巖
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004355742
Publication number (International publication number):2005169118
Application date: Dec. 08, 2004
Publication date: Jun. 30, 2005
Summary:
【課題】目標構造へのモデルのマッチングをできる限り少ない所要費用で満足させる。【解決手段】セグメント化すべき断層画像データ(D)に応じて解剖学的な標準モデル(M)が選択され、標準モデル(M)のジオメトリはモデルパラメータ(tx,ty,tz,rx,ry,rz,d12,d34)に基づいて変化可能であり、モデルパラメータ(tx,ty,tz,rx,ry,rz,d12,d34)は標準モデル(M)の解剖学的な全ジオメトリへの影響に関して階層的に体系化され、その後この標準モデル(M)が、個別化のために複数回の反復ステップ(S)で、断層画像データ(D)において求められる目標構造(Z)にマッチングされ、反復ステップ(S)の回数の増加にともない調整可能なモデルパラメータ(tx,ty,tz,rx,ry,rz,d12,d34)の個数がそれらの階層次数に応じて増加され、最終的に、個別化された標準モデル(M)もしくは部分モデルの輪郭の内部にあるか断層画像データ(D)の内部における全ての画素が選択される。【選択図】図1
Claim (excerpt):
少なくとも1つの部分対象を分離するために被検体の断層画像データ(D)をセグメント化する方法において、
セグメント化すべき断層画像データ(D)に応じて解剖学的な標準モデル(M)が選択され、標準モデル(M)のジオメトリはモデルパラメータ(tx,ty,tz,rx,ry,rz,d12,d34)に基づいて変化可能であり、モデルパラメータ(tx,ty,tz,rx,ry,rz,d12,d34)は標準モデル(M)の解剖学的な全ジオメトリへの影響に関して階層的に体系化され、
その後この標準モデル(M)が、個別化のために複数回の反復ステップ(S)で、断層画像データ(D)において求められた目標構造(Z)にマッチングされ、反復ステップ(S)の回数の増加にともない調整可能なモデルパラメータ(tx,ty,tz,rx,ry,rz,d12,d34)の個数がそれらの階層次数に応じて増加され、
最終的に、個別化された標準モデル(M)もしくは部分モデルの輪郭の内部にある又は最大でもその輪郭から定められた差値しかずれていない断層画像データ(D)の内部における全ての画素が選択される
ことを特徴とする断層画像データのセグメント化方法。
IPC (3):
A61B6/03
, A61B8/00
, G06T15/00
FI (5):
A61B6/03 360G
, A61B6/03 360J
, A61B8/00
, G06T15/00 200
, A61B5/05 380
F-Term (13):
4C093CA29
, 4C093FF16
, 4C093FF42
, 4C096AB27
, 4C096AD14
, 4C096DC15
, 4C096DC16
, 4C096DC19
, 4C096DC36
, 4C601BB03
, 4C601JC09
, 4C601JC25
, 5B080AA17
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
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米国特許出願公開第2001/0026272号明細書
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米国特許第6002782号明細書
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米国特許第6028907号明細書
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