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J-GLOBAL ID:200903083355232288

表面プラズモン共鳴及び蛍光偏光測定用装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 八木田 茂 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002148886
Publication number (International publication number):2003344273
Application date: May. 23, 2002
Publication date: Dec. 03, 2003
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 リガンド分子とアナライト分子との相互作用を表面プラズモン共鳴及び蛍光偏光の両面から測定することができる測定装置を提供すること。【解決手段】 本発明に係る表面プラズモン共鳴及び蛍光偏光測定用装置は、リガンド分子を金属薄膜の表面に固定し、前記リガンド分子又はこのリガンド分子と反応させるためのアナライト分子に蛍光色素を標識し、アナライト分子を前記リガンド分子に与えると共に、光源手段から金属薄膜に光を照射して、金属薄膜において表面ブラズモン共鳴現象を生じさせると共に、前記蛍光色素を励起し、リガンド分子とアナライト分子との相互作用により生じる金属薄膜表面の屈折率の変化を第1光検出手段で検出すると共に、リガンド分子とアナライト分子との相互作用により生じる蛍光偏光の偏光度変化を第2光検出手段で検出するように構成したことを特徴とする。
Claim (excerpt):
表面に金属薄膜が形成された透明な基板と、前記基板の裏面から金属薄膜に光を照射する光源手段と、前記金属薄膜に照射した光の反射光に基づいて金属薄膜表面の屈折率を検出する第1光検出手段と、前記金属薄膜に照射した光に応じて発生する蛍光偏光を検出する第2光検出手段とを備え、リガンド分子を前記金属薄膜の表面に固定し、前記リガンド分子又はこのリガンド分子と反応させるためのアナライト分子に蛍光色素を標識し、アナライト分子を前記リガンド分子に与えると共に、前記光源手段から金属薄膜に光を照射して、金属薄膜において表面プラズモン共鳴現象を生じさせると共に、前記蛍光色素を励起し、リガンド分子とアナライト分子との相互作用により生じる金属薄膜表面の屈折率の変化を前記第1光検出手段で検出すると共に、リガンド分子とアナライト分子との相互作用により生じる蛍光偏光の偏光度変化を前記第2光検出手段で検出するように構成したことを特徴とする表面プラズモン共鳴及び蛍光偏光測定用装置。
IPC (3):
G01N 21/27 ,  G01N 21/64 ,  G01N 33/543 595
FI (4):
G01N 21/27 C ,  G01N 21/64 A ,  G01N 21/64 F ,  G01N 33/543 595
F-Term (37):
2G043AA03 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043EA15 ,  2G043FA06 ,  2G043GA01 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G059AA05 ,  2G059DD03 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE07 ,  2G059EE11 ,  2G059FF12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059GG04 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059LL10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent:
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