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J-GLOBAL ID：200903083378463759

蛍光寿命測定装置

Inventor：
青木 雅弘

About 青木 雅弘


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (1)： 酒井 宏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003359616
Publication number (International publication number)：2005121602
Application date： Oct. 20, 2003
Publication date： May. 12, 2005
Summary：
【課題】簡易な方法により短時間に蛍光寿命の分布画像を取得できる蛍光寿命測定装置を提供することを目的とする。【解決手段】試料に励起光を照射し、試料から発する蛍光光子を複数の時間帯において測定し、測定した蛍光光子から蛍光寿命を算出する蛍光寿命測定装置1において、励起光を制御する励起光制御部2Bと、励起光の走査領域を特定する領域特定部2Dと、領域特定部2Dが特定した領域からの蛍光光子をもとに蛍光寿命を算出する蛍光寿命算出部2Eと、励起光制御部2Bが励起光を試料広域に照射し、照射による蛍光をもとに領域特定部2Dが領域を特定し、励起光制御部2Bが特定した領域に励起光を照射し、蛍光寿命算出部2Eが蛍光寿命を算出させる制御を行う蛍光寿命算出制御部2Aと、を備える。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
試料に励起光を照射し、該試料が励起状態から基底状態に遷移する間に発する蛍光光子を測定し、該測定した蛍光光子から蛍光寿命を算出する蛍光寿命測定装置において、 前記試料に照射する励起光の走査を制御する励起光制御手段と、 前記励起光の走査領域を特定する領域特定手段と、 前記領域特定手段によって特定された走査領域からの蛍光光子をもとに前記蛍光寿命を算出する蛍光寿命算出手段と、 前記励起光制御手段が前記励起光を前記試料広域に照射し、この照射によって発する蛍光をもとに前記領域特定手段が蛍光寿命を算出する領域を特定し、前記励起光制御手段がこの特定した領域のみに励起光を照射し、前記蛍光寿命算出手段がこの照射した領域から放出される蛍光光子を測定し、この測定した蛍光光子にもとづいて蛍光寿命を算出させる制御を行う制御手段と、 を備えたことを特徴とする蛍光寿命測定装置。
IPC (1)：
G01N21/64
FI (1)：
G01N21/64 B
F-Term (14)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA08 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043NA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (6)
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