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J-GLOBAL ID：200903083391948419

電気接点の劣化診断方法および装置

Inventor： 村上 和也 ,  安達 健二 ,  千葉 誠司
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 猪股 祥晃 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001073552
Publication number (International publication number)：2002277494
Application date： Mar. 15, 2001
Publication date： Sep. 25, 2002
Summary：

【要約】【課題】電気接点の劣化を早期に正確に検出し、故障に至るまでの寿命を推定することのできる電気接点の劣化診断方法および装置を提供する。【解決手段】機械的に接触する機構を有する電気接点15の接触抵抗を計測する接触抵抗計測部7と、この計測した抵抗値のデータを時系列的に蓄積する計測データ蓄積部9と、前記時系列データから前記電気接点15の劣化を判定する劣化判定部10と、この劣化判定に基づいて電気接点の使用寿命を推定しあるいは使用限界を診断する劣化診断部11とを備えた構成とする。

Claim (excerpt)：

機械的に接触する機構を有する電気接点の接触抵抗を計測する接触抵抗計測部と、この計測した抵抗値のデータを時系列的に蓄積する計測データ蓄積部と、前記時系列データから前記電気接点の劣化を判定する劣化判定部と、この劣化判定に基づいて電気接点の使用寿命を推定しあるいは使用限界を診断する劣化診断部とを備えたことを特徴とする電気接点の劣化診断装置。

IPC (4)：

G01R 27/02 ,  G01R 27/14 ,  G01R 31/00 ,  H01H 1/00

FI (4)：

G01R 27/02 R ,  G01R 27/14 ,  G01R 31/00 ,  H01H 1/00 D

F-Term (10)：

2G028AA01 ,  2G028BE02 ,  2G028CG04 ,  2G028DH10 ,  2G028FK01 ,  2G028LR07 ,  2G028LR09 ,  2G036AA24 ,  2G036BB06 ,  2G036CA01