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J-GLOBAL ID：200903083407979417

γフォトン検出場におけるスペクトル測定の補正のための方法およびデバイス

Inventor： ローイック・ヴェルジェ ,  ジャン-ポール・ボンフォア-クロード ,  フランソワーズ・マティ
Applicant, Patent owner： コミツサリア タ レネルジー アトミーク
Agent (1)： 志賀 正武 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996243873
Publication number (International publication number)：1997127249
Application date： Sep. 13, 1996
Publication date： May. 16, 1997
Summary：

【要約】【課題】 従来の強度-立ち上がり時間の相関性を利用した補正方法においては、半導体結晶の質に依存するという問題があった。【解決手段】 γフォトンの半導体材料に対する相互作用に応じて半導体検出器52により出力される信号の時間変化を代理する信号またはデータセットを使用するための方法であって、検出器52により出力される信号の電子成分、すなわち、信号全体にうちの一成分であって各γフォトンの半導体材料に対する相互作用に起因する電子の収集に対応する成分、の立ち上がり時間を代理する信号またはデータを作る。

Claim (excerpt)：

γフォトン(8)の半導体材料(2)に対する相互作用に応じて半導体検出器(52)により出力される信号の時間変化を代理する信号またはデータセットを使用するための方法であって、前記検出器により出力される信号の電子成分、すなわち、信号全体にうちの一成分であって各γフォトンの前記半導体材料に対する相互作用に起因する電子の収集に対応する成分、の立ち上がり時間を代理する信号またはデータを作ることを特徴とする方法。

IPC (3)：

G01T 1/24 ,  H01L 31/09 ,  H01L 31/10

FI (3)：

G01T 1/24 ,  H01L 31/00 A ,  H01L 31/10 G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭61-014590
  
• 特開昭61-014591