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J-GLOBAL ID：200903083443516679
出力不均一性計測方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
磯村 雅俊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993073447
Publication number (International publication number)：1994292001
Application date： Mar. 31, 1993
Publication date： Oct. 18, 1994
Summary：
【要約】【目的】 部分的な出力の不均一性の計測を、自動的に効率良く、高精度に行うことが可能な出力不均一性計測方法を提供すること。【構成】 原稿に光を照射し、その反射光を受光素子で光電変換し原稿を読み取る画像読取り装置において、原稿載置面に設置される全面の濃度が均一なパターンを前記受光素子により読み取り、その出力電圧の差から出力の不均一性を計測する方法であって、前記受光素子から出力される全画素の出力電圧をn画素ごとに分けて、該n画素ごとの最大値,最小値、または、最大値,最小値と該最大値,最小値を除いた(n-2)画素の平均値から、出力の不均一性を計測することを特徴とする出力不均一計測方法。
Claim (excerpt)：
原稿に光を照射し、その反射光を受光素子で光電変換し原稿を読み取る画像読取り装置において、原稿載置面に設置される全面の濃度が均一なパターンを前記受光素子により読み取り、その出力電圧の差から出力の不均一性を計測する方法であって、前記受光素子から出力される全画素の出力電圧をn画素ごとに分け、該n画素ごとの最大値,最小値から、出力の不均一性を計測することを特徴とする出力不均一計測方法。
IPC (2)：
H04N 1/40 101
, G01J 1/44
