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J-GLOBAL ID：200903083466959934

光吸収を用いた計測装置

Inventor： 綱沢 義夫
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992197888
Publication number (International publication number)：1994014907
Application date： Jun. 30, 1992
Publication date： Jan. 25, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 外乱光や外乱信号が測定信号に対してどの程度影響しているかを知ることができるようにする。【構成】波長λ1〜λ3の半導体レーザが光源駆動部18によって順次切り換え点灯され、またどの半導体レーザも点灯されないダークレベル又は外乱チェックモードのための期間も設ける。測定光は送光部8から被測定体10を透過散乱して受光部10に入射し、プリアンプ22等を経てサンプルホールド回路26に取り込まれる。マルチプレクサ28を経てデジタル信号に変換されて演算部32へ取り込まれ、正規測定モードでの特性値、外乱チェックモードでの外乱変化が算出され、表示部34に表示される。

Claim (excerpt)：

測定光を被測定体に入射させ、その透過光又は反射光を検出して被測定体による光吸収を測定する計測装置において、被測定体に測定光を入射させて行なう正規測定部と被測定体に測定光を入射させないで行なう外乱チェック部とを切換え可能に設け、外乱チェック部は光源からの測定光を被測定体に入射させないで検出した外乱信号に正規測定状態を代表する時間的に固定された仮想測定信号を加算して外乱チェックシミュレーション信号を作成することを特徴とする計測装置。