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J-GLOBAL ID：200903083507489590

電気二重層コンデンサの劣化検出方法

Inventor： 岡村 廸夫 ,  森本 剛 ,  平塚 和也
Applicant, Patent owner： 株式会社岡村研究所 ,  エルナー株式会社 ,  旭硝子株式会社
Agent (1)： 大原 拓也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993156106
Publication number (International publication number)：1994342024
Application date： Jun. 02, 1993
Publication date： Dec. 13, 1994
Summary：

【要約】【目的】 電気二重層コンデンサの劣化を初期段階で鋭敏かつ正確に検出する。【構成】 測定信号源10から電気二重層コンデンサC1に対して、測定信号として例えば低周波の方形波信号を加えるとともに、その応答信号の所定部分を積分し、その積分値に基づいて特性変化を検出する。

Claim (excerpt)：

測定信号源から電気二重層コンデンサに対して、その測定信号として方形波などの直線波形成分からなる定電流波形信号を加えるとともに、同電気二重層コンデンサで発生する電圧降下による応答信号を積分し、その積分値に基づいて特性変化を検出することを特徴とする電気二重層コンデンサの劣化検出方法。

IPC (2)：

G01R 31/00 ,  H01G 9/00 301

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭63-190318
  
• 特開平4-215415
  
• 特開平4-323260