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J-GLOBAL ID：200903083528364126
適合判定方法、装置、およびプログラム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：
坂口 博
, 市位 嘉宏
, 上野 剛史
, 太佐 種一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005376579
Publication number (International publication number)：2007179276
Application date： Dec. 27, 2005
Publication date： Jul. 12, 2007
Summary：
【課題】文字列と商品の適合判定方法を提供することである。【解決手段】上記課題を解決するために第1の態様として、 評価を含む文字列と、記憶装置に記憶された商品の特徴記述を含む商品情報との適合判定を行う方法であって、 前記文字列中に、評価の対象である評価対象と前記評価対象の評価である評価表現が含まれており、前記評価対象と前記評価表現から、前記評価表現が前記評価対象に対する肯定的な評価か、あるいは前記評価対象に対する否定的な評価かを判断する段階と、 前記評価表現が前記評価対象に対する肯定的な評価の場合、前記評価表現が当該商品の特徴記述に含まれる商品を適合商品と判定し、前記特徴記述に含まれない商品を不適合商品と判定する段階と を含む方法を提供する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
評価を含む文字列と、記憶装置に記憶された商品の特徴記述を含む商品情報との適合判定を行う方法であって、
前記文字列中に、評価の対象である評価対象と前記評価対象の評価である評価表現が含まれており、前記評価対象と前記評価表現から、前記評価表現が前記評価対象に対する肯定的な評価か、あるいは前記評価対象に対する否定的な評価かを判断する段階と、
前記評価表現が前記評価対象に対する肯定的な評価の場合、前記評価表現が当該商品の特徴記述に含まれる商品を適合商品と判定し、前記特徴記述に含まれない商品を不適合商品と判定する段階と
を含む方法。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent：
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