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J-GLOBAL ID：200903083546521425
表面状態検査方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
福岡 正明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991225038
Publication number (International publication number)：1993045142
Application date： Aug. 08, 1991
Publication date： Feb. 23, 1993
Summary：
【要約】【目的】 被検査面に明暗光を照射して該被検査面の表面状態を検査する場合に、より広範囲の被検査面を精度良く検査するこができると共に、該被検査面が曲面形状とされている場合であっても検査精度が低下することのない表面状態検査方法を提供することを目的とする。【構成】 光照射手段5より塗膜面1aに対して明から暗への変化が所定の勾配で繰り返されている明暗光5aを照射し、その塗膜面1aからの反射光をCCDカメラ6により捕らえて受光画像を作成し、該受光画像中の明度変化に基づいて塗膜面1a上の塗装欠陥A,A′を検出する。
Claim (excerpt)：
光照射手段より被検査面に光を照射し、その被検査面からの反射光を捕らえて受光画像を作成し、該受光画像中の明度差に基づいて被検査面の表面状態を検査する表面状態検査方法であって、上記光照射手段より被検査面に対して明から暗への変化が繰り返されている明暗光を照射することを特徴とする表面状態検査方法。
Patent cited by the Patent：
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