Pat

J-GLOBAL ID：200903083643181760

最適断面設定プログラム

Inventor： 武田 真 ,  福島 順一 ,  飯島 昭治 ,  高山 正春 ,  溝渕 知己 ,  平山 浩史 ,  菱沼 慎夫
Applicant, Patent owner： 大成建設株式会社
Agent (1)： 清水 千春 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001140205
Publication number (International publication number)：2002332689
Application date： May. 10, 2001
Publication date： Nov. 22, 2002
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】 設計者の熟練度に依存することなく、所望の強度を有し、かつ最低コストとなる最適断面を、短時間に、しかも正確に設定することが可能となる最適断面設定プログラムを提供する。【解決手段】 過去の類似の建物における最下階および最上階の材料および断面を初期値とする初期値設定ステップ1と、最下階と最上階との間を材料および断面が同一の複数の上階グループにする上階グルーピング設定ステップ2と、各上階グループについて、複数の断面および複数の材料の組合せによる複数の検討グループを設定する上階変化ステップ3と、複数の検討グループの各々に対して構造計算を行なう構造計算ステップ4と、複数の検討グループの各断面および材料から、コストを算出するコスト計算ステップ6と、最小コストを抽出する最小コスト決定ステップ7とをコンピュータに実行させる。

Claim (excerpt)：

入力された建物の概要および設計仕様から、予めデータベースに蓄えられた過去の類似の建物における最下階の基本材料および基本断面並びに最上階の材料および断面を初期値として抽出する初期値設定ステップと、上記設計仕様と抽出された上記初期値とに基づいて、上記最下階と上記最上階との間を、材料および断面が同一の1以上の階を有する複数の上階グループに設定する上階グルーピング設定ステップと、設定された各々の上記上階グループについて、上記初期値設定ステップによって設定された最下階と最上階との上記断面および上記材料が一定の変化割合となるように、複数の種類の断面および材料の組合せによる複数の検討グループを設定する上階変化ステップと、上記初期値および上記上階変化ステップによって得られた複数の検討グループの各々に対して構造計算を行なう構造計算ステップと、上記検討グループの上記断面および上記材料に基づいて数量計算を行ない、単価データベースを参照して当該検討グループのコストを算出するコスト計算ステップと、上記コスト計算ステップにおいて算出された結果を対比して最小コストを抽出する最小コスト決定ステップとを、コンピュータに実行させることを特徴とする最適断面設定プログラム。

IPC (4)：

E04B 1/00 ESW ,  G06F 17/50 604 ,  G06F 17/50 608 ,  G06F 17/50 680

FI (4)：

E04B 1/00 ESW ,  G06F 17/50 604 A ,  G06F 17/50 608 G ,  G06F 17/50 680 B

F-Term (9)：

5B046AA03 ,  5B046BA01 ,  5B046CA04 ,  5B046DA09 ,  5B046GA01 ,  5B046GA02 ,  5B046JA01 ,  5B046JA08 ,  5B046KA05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 建築躯体の構造設計システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-249620   Applicant：株式会社長谷工コーポレーシヨン
• 建築躯体の配筋自動設計システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-221498   Applicant：株式会社長谷工コーポレーション
• 設計支援装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-000021   Applicant：株式会社日立製作所