Pat
J-GLOBAL ID:200903083669316443

線認識方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 青山 葆 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994041077
Publication number (International publication number):1995249100
Application date: Mar. 11, 1994
Publication date: Sep. 26, 1995
Summary:
【要約】【目的】 少数回の画像メモリへのアクセスでもって、破線と文字とを精度良く区別できる線認識方法を提供する。【構成】 入力画像から、横方向に延びる画素のランを抽出する(S1)。各ランの方向と長さとに基づいて、それぞれ横破線、縦破線、横実線、縦実線を構成する可能性を持つランを含む4種の部分集合を作成する(S3)。互いに連結しているランを統合して線素となし、4種の線素集合を作成するとともに、各線素に含まれるランの長さの和を算出する(S4)。上記各線素に含まれるランの長さの和と、上記各線素に対する外接矩形の面積との比に基づいて、上記4種の線素集合からそれぞれ不適格な線素を除去する(S5)。上記4種の線素集合のそれぞれで、各線素を互いに近接している線素からなるグループに分類し、各グループをそれぞれ1つの線として抽出する(S6)。
Claim (excerpt):
入力された画像から、縦横いずれか一方向に延びる画素のランを抽出する工程と、上記一方向に延びる画素のランから縦横のうち他方向に延びる画素のランを抽出する工程と、上記各ランが延びる方向と長さとに基づいて、上記抽出したランの集合からそれぞれ横破線、縦破線、横実線、縦実線を構成する可能性を持つランを含む4種の部分集合を作成する工程と、上記4種の部分集合のそれぞれで、互いに連結しているランを統合して線素となし、上記4種の部分集合にそれぞれ対応する4種の線素集合を作成するとともに、上記各線素に含まれるランの長さの和を算出する工程と、上記各線素に含まれるランの長さの和と、上記各線素に対して外接する矩形の面積との比に基づいて、上記4種の線素集合からそれぞれ横破線、縦破線、横実線、縦実線を構成するのに不適格な線素を除去する工程と、上記4種の線素集合のそれぞれで、残っている線素が互いに近接しているか否かを判定して、上記各線素を互いに近接している線素からなるグループに分類し、上記各グループをそれぞれ1つの線として抽出する工程を有することを特徴とする線認識方法。
IPC (3):
G06K 9/36 ,  G06T 7/00 ,  G06K 9/40
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭61-175880

Return to Previous Page