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J-GLOBAL ID：200903083679824188

引っかき式硬さ試験方法および試験装置

Inventor： 岩崎 昌三 ,  村上 光男
Applicant, Patent owner： 株式会社アカシ
Agent (1)： 飯沼 義彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992180482
Publication number (International publication number)：1993346383
Application date： Jun. 15, 1992
Publication date： Dec. 27, 1993
Summary：

【要約】【目的】 試料の表面から数μm以内の表層硬さを、圧子の引っかき操作によって形成された引っかき溝の深さに基づいて計測する。【構成】 圧子で試料の表面を引っかいて同試料の硬さを試験するに際し、上記圧子に2種類の測定荷重f1,f2を交互に繰返し付与しながら上記圧子による上記試料の引っかきを行なわせ、同引っかきによる上記各測定荷重のもとでの上記圧子の上記試料への各侵入深さを検出し、各回の侵入深さの差y1,y2......に基づいて上記試料の硬さを算出するようにした

Claim (excerpt)：

圧子で試料の表面を引っかいて同試料の硬さを試験するに際し、上記圧子に2種類の測定荷重を付与しながら上記圧子による上記試料の引っかきを行なわせ、同引っかきによる上記各測定荷重のもとでの上記圧子の上記試料への侵入深さの差を検出し、同侵入深さの差に基づいて上記試料の硬さを算出するようにしたことを特徴とする、引っかき式硬さ試験方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭64-050932
  
• 特開昭62-291540
  
• 特開昭64-088335