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J-GLOBAL ID:200903083694701785
GaN系半導体の成長方法およびGaN系半導体成長用基板
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
杉浦 正知
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998024451
Publication number (International publication number):1999224856
Application date: Feb. 05, 1998
Publication date: Aug. 17, 1999
Summary:
【要約】【課題】 良質の単結晶のGaN系半導体を成長させることができるGaN系半導体の成長方法およびGaN系半導体成長用基板を提供する。【解決手段】 少なくとも表面がMoS2 からなる基板1を用い、その上に分子線エピタキシー法などによりGaN系半導体3を成長させる。好ましくは、GaN系半導体3の成長温度より低い温度でまずGaN系半導体からなるバッファ層2を成長させた後、その上にGaN系半導体3を成長させる。GaN系半導体3またはバッファ層2を成長させる場合にはそのバッファ層2の成長時の原料の供給は、Ga原料の供給から開始する。
Claim (excerpt):
少なくとも表面が層状物質からなる基板上にGaN系半導体を成長させるようにしたことを特徴とするGaN系半導体の成長方法。
IPC (3):
H01L 21/203
, H01L 21/205
, H01L 33/00
FI (3):
H01L 21/203 M
, H01L 21/205
, H01L 33/00 C
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