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J-GLOBAL ID：200903083711728870

変調示差分析の方法及び装置

Inventor： マイケル・リーディング ,  ブライアン・ケイ・ハーン ,  ベンジャミン・エス・クロウ
Applicant, Patent owner： ティーエイ・インストゥルメンツ・インコーポレーテッド
Agent (1)： 石田 敬 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992336319
Publication number (International publication number)：1995181154
Application date： Dec. 16, 1992
Publication date： Jul. 21, 1995
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、駆動変数の関数として変化を経験する物質の組成、相、構造、同定、その他の特性を決定するための示差分析を提供する。【構成】 試料皿112と基準物質皿113とを炉124の中に備えて、マイクロコンピュータ127で制御しながら示差走査熱分析を行う。

Claim (excerpt)：

温度の関数として変化を経験する物質を分析する方法であって、(a)基礎となる温度変化率を選択するステップと、(b)変調関数を選択するステップと、(c)変調周波数を選択するステップと、(d)変調振幅を選択するステップと、(e)試料物質を、基準物質に対する前記試料の特性付け物理的パラメータの示差を、前記試料の温度の関数として検出する装置内に置くステップと、(f)前記試料の温度を、前記選択した基礎となる温度変化率と、前記選択した変調関数と、前記選択した変調周波数と、前記選択した変調振幅とに従って変化させるステップと、(g)前記特性付け物理的パラメータの示差を表す示差信号を記録するステップと、を含む方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 特開平3-156351