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J-GLOBAL ID：200903083768056615

測光装置

Inventor： 土生 俊也
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 縣 浩介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992314023
Publication number (International publication number)：1994137948
Application date： Oct. 28, 1992
Publication date： May. 20, 1994
Summary：

【要約】【目的】 試料への入反射角を変えて光学測定を行う装置の小型化。【構成】 照射ユニットと測光ユニットを夫々の中央を中心に回転可能とし、両者を互いに反対方向に同じ角度だけ連動駆動させて、試料を上記両ユニットの光軸の交角の2等分線に沿って進退させて、試料への入反射角を変更するようにした。

Claim (excerpt)：

照射ユニット及び測光ユニットを各ユニットの中央付近に設けた支軸を中心に回転可能にかつ両ユニットの光軸が交わるように保持し、両ユニットを互いに反対方向同じ角度に回転するように連動させると共に、試料を上記両光軸の交角の2等分線に沿って進退する機構を設け、試料を上記両ユニットの回転と連動して進退させる制御手段を設けたことを特徴とする測光装置。

IPC (4)：

G01J 3/02 ,  G01B 11/06 ,  G01J 4/04 ,  G01N 21/21